
Selamat Datang di Repository Perpustakaan
Politeknik Negeri Madiun
Detail Skripsi
Dosen Pembimbing
Pembimbing 1
Dr. Eng. Agus Susanto, S. Pd., M. T.Pembimbing 2
Kholis Nur Faizin, S. Pd., M. T.Download File
KARAKTERISASI SIFAT DINAMIK DAN MORFOLOGI MATERIAL KOMPOSIT BERPENGUAT SERAT ALAM PANDANUS TECTORIUS BERDASARKAN VARIASI FRAKSI VOLUME SERAT
Nur Indah Kusumawati
194308030 / D4 Perkeretaapian- Dipublikasikan pada 23 Oktober 2024
Abstrak
Seiring dengan berkembangnya teknologi saat ini telah banyak digunakan komposit berbahan serat alam misalnya serat pandan duri (Pandanus tectorius). Pandan duri merupakan tanaman yang pemanfaatannya masih dirasa kurang maksimal. Penelitian ini digunakan untuk mengetahui karakteristik dinamik dari komposit berpenguat serat alam Pandanus tectorius dan resin epoxy dengan variasi fraksi volume serat dan arah serat searah. Perbandingan fraksi volume serat dan matriks pada penelitian ini adalah 20% : 80% (variasi 1), 40% : 60% (variasi 2), dan 60% : 40% (variasi 3). Pengujian dilakukan dengan memberikan getaran bebas pada permukaan spesimen komposit berukuran 170 mm x 140 mm x 4 mm melalui mode penyangga flexural support. Berdasarkan uji Experimental Modal Analysis (EMA) menghasilkan frekuensi natural pada setiap variasi berturut-turut sebesar 835 Hz, 1500 Hz, dan 1600 Hz. Pada simulasi Finite Element Analysis (FEA) menghasilkan nilai frekuensi natural yang hampir sama pada setiap variasi yakni sebesar 821.553 Hz, 1523.76 Hz, dan 1578 Hz. Kemudian, berdasarkan Scanning Electron Microscope (SEM) dengan luasan permukaan dan perbesaran yang sama, dimana semakin besar fraksi serat maka semakin banyak pula jumlah serat pada komposit. Banyaknya serat dapat mempengaruhi kekakuan dari suatu komposit. Selain itu, banyaknya serat mampu meningkatkan kemampuan bahan dalam menyerap redaman sehingga menghasilkan nilai redaman yang kecil pada setiap variasi yaitu sebesar 410 Ns/m, 303 Ns/m, dan 293 Ns/m.
Kata Kunci : Pandanus tectorius, resin epoxy, Experiment Modal Analysis (EMA), Finite Element Analysis (FEA), dan Scanning Electron Microscopes (SEM).